外媒报道称，美国能源部下属的劳伦斯伯克利国家实验室，刚刚安装了一台新型电子探测器，能够以更快的速度捕获原子级图像。 这项技术的应用，有望帮助科学家们更好地理解电池和微芯片组件中的状况，实现更好的损伤控制与防护。这台探测器能够在原子尺度上记录图像和发现缺陷，速度是当前设备的 60 倍。

升级后的透射电子像差校正显微镜（TEAM 0.5）

这台探测器被称作“4D 摄像机”，每分钟可输出大约 4TB 数据，使得科学家能够回顾事件的全貌，而不仅仅是一张张静态的图像。

4D 超高速检测器的核心组件（图自：Berkeley Lab）

来自伯克利实验室分子铸造厂、科学家之一的 Peter Ercius 表示 —— 其数据量相当于同时观看约 6 万部高清电影。

A New Detector – the 4D Camera（via）

为处理如此大的数据，需要团队在显微镜和超级计算机之间建立一个强大的网络，才能让科学家记录和回顾实验过程中的每一个电子的变化。

左起为 Ian Johnson、Jim Ciston、Peter Denes 和 Peter Ercius

科学家 Jim Ciston 表示 —— 通过这个庞大的数据集，我们能够对样本进行‘虚拟’实验，而无需返回并从不同的成像条件中获取新数据。

[来源：LBL]